显微表征
-
扫描电子显微镜SEM
型号：Apreo 2
SEM主要用于固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。它既可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在微米、纳米级样品的表面特征，配备的EDS也可以支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品在元素分布。
查看更多
-
透射电子显微镜TEM
型号：JEM-F200
TEM用于观察样品内部组织形貌，特别适用于对纳米尺度样品的观测；具有结构相的样品，能在高倍数下观测到晶格条纹。其中，STEM综合扫描和普通透射电子分析的特点，可以观察较厚的试样和低衬度的试样，得到原子序数衬度像。
查看更多
-
原子力显微镜AFM
型号：Dimension Lcon
1.薄膜表面形貌分析(2D、3D)，表面粗糙度测量；
2.在测试高分辨率形貌的基础上，还可以测试样品的力学（摩擦力，模量及黏附力等），电学（静电力，压电力，表面电势等）和磁学等多种性能。
查看更多